類別:邏輯 - 專用邏輯
規(guī)格:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
產品封裝:24-SOIC(0.295,7.50mm 寬)
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基本功能
制造商產品型號:SN74BCT8240ADWRE4制造商:TI公司(德州儀器,Texas Instruments)描述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC產品系列:邏輯 - 專用邏輯包裝:卷帶(TR)系列:74BCT零件狀態(tài):停產邏輯類型:掃描測試設備,帶反相緩沖器供電電壓:4.5V ~ 5.5V位數:8工作溫度:0°C ~ 70°C安裝類型:表面貼裝型產品封裝:24-SOIC(0.295,7.50mm 寬)SN74BCT8240ADWRE4 | TI代理全新原裝現貨
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